分析サービス

スタンフォード・アドバンスト・マテリアルズ(SAM)は、寸法検査、電気伝導度試験、粒度測定を含む包括的な分析サービスを提供しています。当社の先進的なラボには、GDMS、ICP-MS、ICP-OESなどの試験用の最先端機器が装備されています。

また、SEM、TEM、X線回折（XRD）分析を用いた機械的特性試験も行っており、材料の挙動に関する正確な洞察をお届けします。品質と精度にこだわるSAMは、信頼性の高い試験・分析サービスを提供するパートナーです。

サービス一覧

寸法検査

寸法検査は、部品の寸法を正確に測定・検証し、正確な仕様を満たすことを保証します。

電気コンダクタンス試験

電気コンダクタンス試験は、材料が電流を伝導する能力を測定し、電気的用途における最適な性能を保証します。

GDMS

GDMS(グロー放電質量分析計)は、固体材料の精密な元素分析を行い、品質管理や材料検証のための微量元素やバルク元素を検出します。

粒度測定

粒度分布測定は、材料の微細構造を分析して粒度を評価し、材料の強度と性能に影響を与えます。

ICP-MS

ICP-MS (Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry) は、様々な物質中の微量元素の検出と定量に使用される高感度技術です。

ICP-OES

ICP-OES（Inductively Coupled Plasma Optical Emission Spectroscopy：誘導結合プラズマ発光分光法）は、発光を通して試料中の複数の元素を精密に検出・分析する技術です。

機械的特性

機械的特性試験は、材料の強度、弾性、硬度、耐久性を評価し、材料が要求性能を満たしていることを確認します。

SEM

SEM（走査型電子顕微鏡）は、高倍率で材料表面を詳細に画像化し、精密な構造解析を可能にします。

TEM

TEM（透過型電子顕微鏡）は、物質構造を原子レベルで高解像度にイメージングし、詳細な分析を可能にします。

X線回折（XRD）分析

X線回折（XRD）分析は、材料の結晶構造を特定し、相組成と材料特性に関する洞察を提供します。

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