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| カタログ番号 | CY3437 |
| 作曲 | Au、Cr、SiO2、Si |
| 抵抗率 | <0.005Ω・cm |
| 基板サイズ | 4インチ径±0.5mm x 0.5mm |
| 研磨 | 片面研磨 |
| 表面粗さ | < 10 A RMS |
Au/CrコーティングSiO2/Si基板は 、ナノ分野、走査型電子顕微鏡（SEM）、原子間力顕微鏡（AFM）、および他の走査型プローブ顕微鏡の範囲で使用することができます。スタンフォードアドバンストマテリアルズ(SAM)は、高品質の光学製品の製造と供給において豊富な経験を持っています。
関連製品シリコンウエハ上のアルミニウム膜、Au/TiコーティングSiO2/Si基板、PtコーティングSiO2/Si基板、Agメッキシリコンウエハ
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