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| カタログ番号 | CY9489 |
| 素材 | Si |
| 形状 | ディスク |
| フォーム | 基板 |
300mmPタイプ（Bドープ）シリコンウェーハ基板テストグレード(100)、DSP、1-100Ω-cmは、結晶方位を(100)に制御した半導体テスト用シリコン基板です。スタンフォード・アドバンスト・マテリアルズ（SAM）は、1～100 Ω-cmの抵抗値を確保するために、厳格なボロンドープレジメンと高解像度イメージングを含むインライン欠陥評価技術を利用しています。DSP処理により、表面の欠陥はさらに最小限に抑えられ、これは精密な電気性能評価に不可欠です。
.jpg "Nano Silicon Nitride (Si3N4) Powder (CAS No. 12033-89-5)")
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