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| カタログ番号 | CY9495 |
| 素材 | Si |
| 形状 | ディスク |
| フォーム | 基板 |
ウルトラフラットシリコンウェハ Pタイプ 径4インチ×厚さ525μm4インチ×525μm厚は、高度な半導体プロセスに適した、極めて平坦な表面と精密な厚み制御を特徴とするシリコン基板です。スタンフォード・アドバンスト・マテリアルズ（SAM）では、干渉計による表面評価や高分解能計測を含む厳密な工程管理を行い、平坦性と均一性を検証しています。SAMの施設は、クリーンルーム製造と詳細な欠陥検査を統合し、各ウェハーが厳しい公差基準を満たし、デバイス製造中のばらつきを最小限に抑えることを保証します。
.jpg "Nano Silicon Nitride (Si3N4) Powder (CAS No. 12033-89-5)")
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