シリコンウインドウ(Si) Dia.25.4 mm x Thk.1.0mm、非コート 説明
直径25.4mm、厚さ1.0mmのノンコートのシリコン(Si)ウィンドウは、優れた熱安定性、優れた機械的強度、卓越した赤外線透過率を提供します。赤外分光法、レーザーシステム、半導体プロセスなど幅広い用途に適しており、歪みを最小限に抑えながら効率的な性能を発揮します。その結果、中赤外から遠赤外波長で動作する高精度機器に理想的な部品であり、最適なイメージング、測定、検出能力を保証します。
厳格な品質基準に従って製造された各ウインドウは、寸法精度、表面品質、材料純度を確認するための厳しい検査を受けています。非コーティング仕上げは、シリコン本来の光学特性を維持し、お客様のシステム要件に応じて特殊なコーティングや処理を施すことができます。高度な研究用セットアップや工業用装置の設計にかかわらず、このシリコン・ウィンドウは、信頼性の高い性能と長期にわたる耐久性を実現し、一貫した高品質の結果を達成するのに役立ちます。
シリコンウィンドウ (Si) Dia.25.4 mm x Thk.1.0mm、コーティングなし
シリコンウインドウは、近赤外から中赤外域の広い透過率、低密度、優れた熱安定性で知られています。 直径25.4mm、 厚さ1.0mmの非コーティング丸窓は 、過酷な条件下で信頼性の高い性能を必要とする用途に最適です。そのユニークな光学特性は、正確で一貫した結果を可能にし、産業、研究、商業の現場で好まれる選択肢となっています。
1.産業用途
- レーザーベースの切断システム:シリコンの高い熱安定性により、集中的なレーザー加工でも安定した性能を発揮し、効率的な切断と最小限の歪みを実現します。
- 赤外線監視装置:シリコンの優れた赤外線透過率は、生産ラインや高温プロセスを監視する堅牢なセンサーに適しています。
2.研究用途
- 分光分析:ウインドウの広い赤外領域は正確な分光測定をサポートし、科学者がサンプル組成に関する正確なデータを収集するのに役立ちます。
- 熱画像研究このウインドウの低吸収特性は、熱伝導や材料挙動の研究に不可欠な、中断のない熱検知を保証します。
3.商用アプリケーション
- 赤外線セキュリティセンサー:非コーティングシリコンウィンドウは、クリアなIR透過率を提供し、セキュリティイメージングや動体検知システムに最適です。
- 光学ディスプレイ: その耐久性と光学的透明性は、近赤外機能を必要とする特殊な業務用ディスプレイの信頼性の高い表示パネルの作成に役立ちます。
シリコンウインドウ (Si) Dia.25.4 mm x Thk.1.0mm、非塗装パッケージ
非コーティングシリコンウインドウ(直径25.4mm、厚さ1.0mm)は、まず傷のつきにくいレンズペーパーに包まれ、次に帯電防止ポリ袋に入れられます。丈夫な発泡スチロールで裏打ちされた容器は、輸送中の衝撃を確実に吸収します。最適な保管のためには、温度管理された清潔で乾燥した環境で保管してください。汚染を防ぐため、真空密封包装もご検討ください。ご要望に応じて、カスタマイズされたラベリング・オプションや特殊包装も承ります。
包装真空シール、木箱、またはカスタマイズ。
シリコン窓(Si) Dia.25.4 mm x Thk.1.0mm、コーティングなし よくある質問(FAQ
Q1: シリコンウィンドウ (Si) Dia.25.4 mm x Thk.1.0mm、コーティングなし
A1: シリコン(Si)は、約149W/m・Kの優れた熱伝導率、高い屈折率(中赤外域で約3.42)、約1.2μmから7μmまでの良好な赤外透過率を提供します。また、低密度(2.33g/cm³)、適度な硬度(モース硬度~7)、最小限の内部応力により、安定した光学性能を発揮します。 反射防止コーティングを施していない場合、反射率が高くなる可能性がありますが、コーティングされていない表面は、広い波長域での適合性を保証します。
Q2: この製品はどのように取り扱われ、保管されるべきですか?
A2: シリコン・ウィンドウはもろく、傷がつきやすいので、リントフリーの手袋と清潔で研磨剤の入っていない工具を使って取り扱ってください。欠けを防ぐため、指が直接触れたり、硬い表面に接触したりしないようにしてください。ウィンドウは、クッション性のある仕切りのある保護ケースに入れ、湿度が低くほこりの少ない環境で保管するのが理想的です。適切なラベリング、急激な温度変化への最小限の露出、穏やかなクリーニング技術により、光学的品質はさらに保たれます。
Q3: シリコン・ウィンドウ(Si)φ25.4mm×厚さ1.0mm、非コート品にはどのような品質規格や認証が適用されますか?1.0mm、コーティングなし
A3: メーカーは一般的にISO 9001品質管理手法を遵守し、一貫した生産とトレーサビリティを確保しています。シリコンウィンドウは一般的に、表面品質、スクラッチディグ仕様、平坦度公差についてMIL-PRF-13830BまたはISO 10110に準拠しています。また、汚染物質を制限し、光学純度を維持するために、クリーンルーム条件下で製造されることもあります。さらに、多くの製造業者は、最終製品に規制物質が混入しないよう、RoHS指令への準拠を保証しています。
関連情報
1.先端産業への応用
航空宇宙、半導体検査、医療診断などの分野の特殊システムは、シリコンウィンドウ(Si)Dia.25.4mm×厚さ1.0mm、非コート。このウィンドウの正確な直径と均一な1.0mmの厚さは、赤外線波長の卓越した透過率を必要とする最先端ツールにシームレスに統合することを可能にし、厳しい動作条件下でも正確な読み取りと安定した性能を保証します。
この非コーティングシリコンウインドウをタイムリーに採用することで、分光、レーザー診断、熱画像用に設計された機器にコスト効率よく組み込むことができます。光学的な透明性と機械的な堅牢性のバランスを提供することで、産業界が測定精度を向上させ、主要な機器の寿命を延ばし、メーカーや研究施設がグローバル市場で競争優位に立てるよう支援します。
2.品質管理対策
シリコン・ウィンドウ(Si)Dia.25.4 mm x Thk.1.0mm、コーティングなし)の品質保証プロトコルは、厳格な光学的透明度テストと寸法精度チェックを含みます。綿密な検査工程により、ウインドウの直径と厚みが厳しい公差に適合していることが確認され、光学的な平坦度検査により、表面の微細な凹凸がピンポイントで検出されます。これらの措置により、レーザー光路と診断ビームの完全性が保たれ、一貫した信頼性の高い結果が保証されます。
厳密な環境および熱サイクル手順により、極端な動作温度やさまざまな湿度レベル下でのウィンドウの耐久性がさらに証明されます。バッチごとに包括的なテストを実施することで、最終製品は長期間にわたって安定した性能を発揮し、絶対的な精度が要求されるミッションクリティカルなシステムに最適な選択肢となります。
仕様
仕様
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数値
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開口率
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85
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厚み 公差 (mm)
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±0.13
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直径 公差 (mm)
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+0.00 / -0.13
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コーティング
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コーティングなし
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熱膨張係数 (10-⁶/°C)
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2.55
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密度 (g/cm³)
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2.33
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屈折率 n<sub>d</sub
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3.422 @ 5 µm
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平行度 (arcmin)
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< 3
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エッジ
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ファイン研磨
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ヌープ硬度 (kg/mm²)
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1150
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ポアソン比
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0.265
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基板
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シリコン(Si)
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表面平坦度(P-V)
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2λ
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表面品質
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40-20
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タイプ
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保護ウィンドウ
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波長範囲 (nm)
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1200 - 7000
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ヤング率 (GPa)
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140
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*上記製品 情報は理論値であり、参考値です。実際の仕様とは異なる場合があります。