シリコンウインドウ(Si) Dia.25.4 mm x Thk.3.0mm、非コート 説明
直径25.4mm、厚さ3.0mmのノンコートシリコンウインドウ。シリコン(Si)は、低密度、優れた熱伝導性、均一な高純度構造で知られており、精密な光学性能と厳しい条件下での耐性を必要とする用途に最適です。このウィンドウの広い赤外透過範囲と低い色収差は、正確なイメージング、レーザーシステム、分光分析を可能にします。
各シリコンウインドウは、厳格な品質基準に従って細心の注意を払って製造されており、最小限の表面欠陥、厳しい寸法公差、最適な平面度を保証しています。研究室、工業用機器、または高度な光学アセンブリのいずれに利用されても、この多用途のSiコンポーネントは、さまざまな環境条件下で性能の安定性を維持しながら、信頼性の高い結果を提供します。
シリコン・ウィンドウ(Si) Dia.25.4 mm x Thk.3.0mm、コーティングなし
直径25.4mm、 厚さ3.0mmのシリコンウィンドウ(Si)は、高い熱伝導性、耐久性、赤外線領域での優れた透過率で知られています。これらの特性により、過酷な環境、光学機器、最先端の研究用途での使用において非常に貴重なものとなっています。非コーティング仕上げは、損傷に対する自然な耐性を維持するのに役立ち、様々なシステムへの多目的な統合を可能にします。
1.産業用途
- レーザー加工: ウィンドウの高い損傷しきい値と赤外線透過性により、安全な電力供給とビーム集束が可能になります。
- 過酷環境モニタリング:耐久性と熱安定性により、産業用センサーや温度測定セットアップに最適。
2.研究用途
- 分光学: 卓越したIR透過率により、研究所や大学での研究においてサンプルの正確な分析が可能。
- 真空チャンバー: 堅牢な構造と最小限のアウトガスにより、低圧環境を必要とする実験に適しています。
3.商業用途
- 赤外線イメージングデバイス窓の透明性と強度は、民生用電子機器の高解像度イメージングをサポートします。
- 保護エンクロージャー:非被覆シリコンは、商用システムのレーザーモジュールや高感度光学モジュールの保護ビューポートとして使用できます。
シリコンウィンドウ(Si) Dia.25.4 mm x Thk.3.0mm、非塗装パッケージ
直径25.4mm、厚さ3.0mmの非コーティングシリコンウインドウ(Si)は、傷や汚染から保護するため、帯電防止ポリ袋に慎重に封入されます。封入されたパッケージは、衝撃吸収のためにパッド入りのキャリングボックスに入れられます。湿度の低い環境で密封して保管してください。多様な出荷と取り扱いのニーズに合わせて、カスタマイズされたラベリングと保護パッケージ機能を提供します。
梱包真空シール、木箱、またはカスタマイズ。
シリコン窓(Si)Dia.25.4 mm x Thk.3.0mm、コーティングなし よくある質問(FAQ
Q1: シリコンウィンドウ (Si) Dia.25.4 mm x Thk.3.0mm、コーティングなし
A1: 直径25.4mm x 厚さ3.0mmのシリコン・ウィンドウ(無塗装品)の主な材料特性は、赤外域での高い透過率(およそ1.2~7μm)、低い熱膨張率、優れた熱伝導率(最大149W/mK)です。結晶構造は均一な機械的安定性を保証し、約2.33g/cm³の密度は適度な重さを提供します。さらに、シリコンの高いヌープ硬度は耐久性を高めます。
Q2: この製品はどのように取り扱われ、保管されるべきですか?
A2: 油分や埃は光学性能を低下させる可能性があるため、汚染を防ぐためにパウダーフリーの手袋を着用してください。また、光学面に直接触れないよう、常に窓の端を持って持ち運んでください。清潔で乾燥した環境で保管し、できれば機械的衝撃を防ぐために緩衝材を入れた密閉容器に入れてください。使用前にゴミが付着していないか点検し、圧縮空気または非研磨性クリーナーを使って優しく取り除いてください。
Q3: シリコン・ウィンドウ(Si)φ25.4mm x Thk.3.0mm、コーティングなし
A3: シリコンウィンドウは通常、光学部品のISO 10110仕様に準拠しており、正確な寸法公差、表面精度、最小限の欠陥が保証されています。また、製造業者はISO 9001認定の品質管理システムに従い、一貫した製造基準を維持しています。サプライヤーによっては、MIL-PRF-13830Bや、スクラッチディグ基準に関する同等の軍事規格に準拠している場合もあります。最後に、平坦性と表面品質を確認するために、干渉検査を含む徹底的な検査が行われ、信頼できる光学性能を支えています。
関連情報
1.製造工程
このシリコン・ウィンドウ(Si)Dia.25.4 mm x Thk.3.0mm、非コーティング、製造の各段階が厳格な仕様に適合していることを保証します。シリコン・インゴットを正確なディスクにスライスするために特殊な装置が使用され、正確な直径と厚みが要求されます。その後、ディスクは入念なラッピングと研磨工程を経て、高精度のシステムで使用される際に、最適な光学的透明度と最小限の散乱のために極めて重要な、超平滑な表面を作り出します。
高度な検査プロトコルは、完成したウィンドウが一貫した寸法と最小限の表面欠陥を示していることを検証します。これらの検査では、マイクロクラックや介在物などの潜在的な内部欠陥が、非破壊検査法によって特定されます。このような細部への配慮が窓の構造的完全性を守り、安定した赤外線透過と耐久性が重要な環境において信頼性の高い性能を実現します。
2.先端産業への応用
シリコンのユニークな特性により、これらの非コーティング・ウィンドウは、赤外線イメージングや分光学に依存する産業で高い人気を誇っています。堅牢な熱安定性と赤外領域での優れた透明性により、赤外ガス分析装置、サーモグラフィーカメラ、レーザーベースの機器などのシステムで保護バリアとして機能します。この性能は、正確なデータ取得が要求される最先端の研究施設や産業用途において、その価値を際立たせています。
また、徹底的なテストにより、急激な温度変化や高真空環境など、過酷な使用条件下でも性能を維持することが確認されています。その結果、信頼性の高い光学部品がより正確なプロセス監視や製品診断を可能にする、航空宇宙や半導体製造に不可欠なコンポーネントを形成しています。これらの先進的なアプリケーションは、注意深く作られたシリコン・ウィンドウが、いかに広範でミッション・クリティカルなオペレーションをサポートできるかを示しています。
仕様
仕様
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数値
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開口率
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85
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厚み 公差 (mm)
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±0.13
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直径 公差 (mm)
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+0.00 / -0.13
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コーティング
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コーティングなし
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熱膨張係数 (10-⁶/°C)
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2.55
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密度 (g/cm³)
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2.33
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屈折率 n<sub>d</sub
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3.422 @ 5 µm
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平行度 (arcmin)
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< 3
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エッジ
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ファイン研磨
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ヌープ硬度 (kg/mm²)
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1150
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ポアソン比
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0.265
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基板
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シリコン(Si)
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表面平坦度(P-V)
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2λ
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表面品質
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40-20
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タイプ
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保護ウィンドウ
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波長範囲 (nm)
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1200 - 7000
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ヤング率 (GPa)
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140
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*上記製品情報は理論値であり、参考値です。実際の仕様とは異なる場合があります。