OP8242 シリコンウィンドウ（Si） 径.50.8 mm x 厚さ.2.0mm、非被覆

シリコン窓（Si） 径.50.8 mm x 厚さ2.0mm、非コート 説明

直径50.8mm、厚さ2.0mmのシリコン・ウィンドウ（Si）は、高純度単結晶シリコンから作られており、卓越した光学性能と耐久性を保証します。シリコンの優れた熱伝導性と低密度は、厳しい条件下でも信頼性の高い動作を実現し、安定した化学的特性は傷や過酷な環境にも耐性を発揮します。

厳格な品質基準のもとで製造された各ウインドウは、精密な寸法管理と入念な表面研磨を経て、一貫した高品位な仕上げが施されています。この細部へのこだわりが、重要な光学機器や分析機器の精度維持に不可欠な、優れた平面度、平行度、表面品質を保証しています。

シリコン窓（Si） Dia.50.8 mm x Thk.2.0mm、コーティングなし

直径 50.8mm、厚さ 2.0mmのシリコンウィンドウは、エンジニアや科学者に堅牢で高性能な光学部品を提供します。非コーティングの表面は、卓越した熱伝導性と機械的強度を持ちながら、優れた赤外透過性を維持します。 このため、耐久性、光学的透明性、信頼性の高い性能を必要とする幅広い産業、研究、商業用途に理想的な選択肢となります。

1.産業用途

- 用途1：優れた赤外線透過率と熱安定性を利用した、プロセス監視用赤外線イメージングシステム。

- 用途2：シリコンの耐久性と高温耐性を利用した、レーザー加工装置の保護カバー。

2.研究用途

- 用途1: 実験的分光学研究。コーティングされていないシリコンの最小限の反射と広い赤外領域の互換性を利用。

- 用途2：光学研究所でのビームスプリッター部品。シリコンの安定した均一な特性により、正確な測定結果が得られます。

3.商業用途

- 用途1：セキュリティゲートやチェックアウトシステムにおける光学スキャナー。

- 用途2：シリコンの機械的強度と温度変化への耐性を利用した環境センサーの高性能部品。

シリコンウィンドウ（Si） Dia.50.8 mm x Thk.2.0mm、非塗装パッケージ

各シリコン・ウインドウは、静電気防止用の密封された袋の中で、非研磨フォーム層の間に注意深く配置されています。光学的透明度を維持するため、直射日光を避け、清潔で乾燥した環境で保管してください。汚染を防ぐため、取り扱い中は保護手袋を着用し、ほこりのない状態で保管することをお勧めします。特注ラベリング、特殊包装サイズ、追加保護コーティングはご要望に応じて承ります。

包装真空シール、木箱、またはカスタマイズ。

シリコン窓（Si）Dia.50.8 mm x Thk.2.0 mm、コーティングなし よくある質問（FAQ

Q1: シリコンウィンドウ (Si) Dia.50.8 mm x Thk.2.0mm、コーティングなし

A1: このサイズのシリコン・ウィンドウは、高い熱伝導率（約149W/m・K）、適度な密度（2.33g/cm³）、約7のモース硬度を特徴としています。屈折率は10.6μmで約3.42であり、赤外線用途に有用です。コーティングされていない表面は、赤外線領域で1面あたり約30%の自然反射率を示す。通常の条件下では化学的に安定していますが、応力がかかると脆くなります。

Q2: この製品はどのように取り扱われ、保管されるべきですか？

A2: 汚染や指紋を防ぐため、常に清潔で粉のついていない手袋を着用してください。 光学面に直接圧力がかかったり、たわんだりしないよう、ウィンドウの端で支えてください。清潔で乾燥した温度管理された環境、理想的にはパッド入りの容器や専用の引き出しに保管してください。シリコンのもろさはひび割れや欠けの原因となるため、積み重ねたり重いものの下に置いたりすることは避けてください。

Q3: シリコン・ウィンドウ（Si）φ50.8mm x Thk.2.0mm、コーティングなし

A3: これらのウィンドウは通常、光学材料の仕様と品質についてISO 10110に準拠しています。表面の欠陥は、MIL-PRF-13830Bや、スクラッチとディグの基準を規定する同様の規格によって評価される場合があります。さらに、多くのメーカーはRoHS指令やREACH指令への準拠を保証しています。アプリケーションの要件によっては、製品は、一貫した光学性能を保証するために、寸法精度、平面度、平行度に関する業界固有の基準を満たすこともあります。

関連情報

1.先端産業への応用

赤外分光や精密レーザーシステムなど、特殊な分野に対応するシリコンウインドウ（Si）Dia.50.8 mm x Thk.2.0mm、非コーティングは、卓越した透明度と均一性を提供し、信号干渉を最小限に抑えて赤外波長を透過させる能力は、精密な光学測定を必要とする最先端の研究所、半導体加工施設、様々なバイオテクノロジー分野で使用されるハイエンド機器に最適です。

航空宇宙および防衛用途では、このシリコン・ウィンドウは、極端な温度変動や機械的ストレスに耐える信頼性の高い光学部品として機能します。堅牢な機械的強度と低密度を組み合わせることで、高度なアセンブリへの効率的な統合をサポートし、光学性能を維持しながら全体の重量を削減します。これらの品質により、このウィンドウは、厳しい環境下でも正確で信頼性の高いデータ収集が要求されるミッションクリティカルなシステムに不可欠な存在であり続けています。

2.品質管理

厳格な試験プロトコルを採用し、シリコン・ウィンドウ（Si）Dia.50.8 mm x Thk.2.0mm、コーティングなし）が一貫した光学および寸法規格に適合していることを確認するため、厳密な検査プロトコルが採用されています。自動検査システムは、平坦度公差と表面仕上げを検証し、画像品質を損なったり、不要な反射を引き起こしたりする可能性のある欠陥を排除します。 細心の取り扱い手順は、表面の完全性をさらに維持し、潜在的な微小磨耗や汚染を最小限に抑えます。

正確な計測と校正技術により、製造中の複数のチェックポイントでウィンドウの厚みと直径を検証します。このアプローチにより、メーカーはわずかな偏差にも対応し、要求の厳しい用途に求められる高精度を維持することができます。これらの対策により、すべてのユニットが一貫した性能を発揮し、研究、産業、商業の各分野で途切れることのない機能を保証します。