シリコン窓(Si) 径.50.8 mm x Thk.1.0mm、ARコーティング
この高品質のシリコン・ウィンドウ(Si)は、正確な直径50.8mm、厚さ1.0mmで作られており、低吸収と最小限の熱歪みを必要とするアプリケーションに最適です。シリコンの赤外(IR)領域における強力な光学性能により、卓越した透過率が確保され、幅広い波長範囲にわたって正確な測定とイメージングが可能になります。さらに、高度なARコーティングにより反射損失を最小限に抑え、全体的な光学効率を高めています。
厳しい品質基準の下で製造されたこのシリコン・ウィンドウは、均一性を保つために丹念に研磨されており、厳しい環境下でも信頼性の高い一貫した結果を保証します。その堅牢な機械的特性と熱変動への耐性により、最適な透明度と精度が最優先される分光装置、赤外レーザー、イメージング・システムに好んで使用されています。
シリコンウインドウ(Si) Dia.50.8 mm x Thk.1.0mm、ARコーティング用途
直径 50.8mm、厚さ1.0mmのシリコン ウインドウは、高度なARコーティングを施し、近赤外領域で使用される光学系に卓越した性能を発揮します。また、高い透過率、機械的堅牢性、温度変化への耐性を備えており、さまざまな産業分野で不可欠な部品となっています。レーザー研究から半導体製造まで、これらのウインドウは一貫した正確な結果を保証します。
1.産業用途
- 高温製造工程における保護用ビューポート、急激な温度変化に対する安定性を提供。
- レーザー切断機や溶接機における光学部品。
2.研究用途
- 赤外分光法のサンプルウィンドウ。信号損失を最小限に抑え、正確なデータ収集を可能にします。
- 大学の研究室での実験に使用される光学部品。
3.商業用途
- セキュリティおよび監視システム用のカメラハウジング。
- 医療診断装置の光学部品。信頼性の高い性能と最適な光透過率を実現。
シリコン窓(Si) 径.50.8 mm x Thk.1.0mm、ARコーティングパッケージ
ARコーティングを施したシリコンウインドウ(Si)は、衝撃吸収用の発泡インサートを備えた密封された静電気のないパウチに丁寧に梱包されます。長期保管の場合は、清潔で乾燥した環境、室温で保管してください。汚染を防ぐため、清潔な手袋を使用し、ほこりのない管理された場所でのみ取り扱ってください。特定の要件に対応するため、ご要望に応じてラベル付け、サイズ、包装形態のカスタマイズが可能です。
包装真空シール、木箱、またはカスタマイズ。
シリコン窓(Si)Dia.50.8 mm x Thk.1.0 mm、ARコーティング FAQ
Q1: シリコンウィンドウ (Si) Dia.50.8 mm x Thk.1.0mm、ARコーティング
A1: このシリコンウインドウは、約1.2μmから7μmまでの高い赤外透過率を特徴とする単結晶材料で、表面反射を低減し、スループットを向上させるARコーティングが施されています。直径は50.8mm、厚さは1.0mmです。
Q2: この製品はどのように取り扱われ、保管されるべきですか?
A2: 光学的品質を保つため、ウィンドウの取り扱いには常に清潔なリントフリーの手袋を使用し、研磨面に直接触れないようにしてください。汚染や熱衝撃を防ぐため、適度な湿度を保ち、埃のない管理された環境で保管してください。保護ケースまたは発泡スチロールを敷いた容器に保管し、機械的ストレスを防止してください。クリーニングは、認可された溶剤と研磨剤を含まないワイパーでのみ行ってください。
Q3: シリコン・ウィンドウ(Si)φ50.8mm x Thk.1.0mm、ARコーティング
A3: シリコン・ウィンドウは通常、表面品質、波面歪み、コーティングの耐久性に関するISO 10110光学要件に準拠しています。製造業者は多くの場合、工程管理のためのISO 9001認証とスクラッチディグ基準のためのMIL-PRF-13830Bコンプライアンスを維持しています。検査プロトコルは、介在物、表面欠陥、コーティングの傷が最小限であることを保証します。さらに、各製品は、出荷前に寸法精度、光学性能、総合的な信頼性を確認するための厳格な試験を受けます。
関連情報
1.製造工程
シリコン・ウィンドウ(Si)Dia.50.8 mm x Thk.1.0 mmは、高純度シリコン・インゴットからの精密切断から始まります。原材料のシリコンは、結晶の完全性を維持するために機械的ストレスを最小限に抑えながら、先端にダイヤモンドが付いたのこぎりを使用してディスクにスライスされます。この工程に続いて、ウィンドウは何段階ものラッピングと研磨を経て、透明度を最適化し、散乱の影響を最小限に抑えるために不可欠な、超平滑な表面を実現します。表面の平坦度と平行度を厳密に管理するために特殊な装置が使用され、その結果、ディスク全体で一貫した光学性能が実現される。
表面粗さと厚さの均一性を確認するため、製造パイプライン全体で集中的な品質チェックが行われます。研磨段階の後、シリコン・ウィンドウの両面に反射防止(AR)コーティングが入念に蒸着されます。この薄膜は、特定の波長範囲における反射を最小限に抑え、全体的な透過率を高めるために重要である。直径50.8mm、厚さ1.0mmの最終製品は、厳しい環境条件にさらされても高い耐久性と安定した性能を発揮する。
2.先端産業への応用
航空宇宙、防衛、半導体製造などの技術分野では、高精度の光学システムにこのシリコン・ウィンドウが日常的に使用されています。低密度、適度な重量、卓越した熱伝導率を併せ持つシリコンは、温度変動や機械的ストレスが大きい環境において理想的な選択肢となります。さらに、ARコーティングは透明度を高め、光学的損失を低減する役割を果たし、これはレーザー、分光計、センシング機器にとって特に重要です。
多用途性は、ウインドウの機械的および熱的回復力から生じ、極低温および高温アプリケーションの両方で確実に機能します。この信頼性は、化学反応のモニタリングや光シグナルの微小変化の検出など、繊細なプロセスの常時モニタリングが不可欠な産業において極めて重要です。強度、透明性、環境適合性のユニークなバランスを持つシリコン・ウィンドウ(Si)Dia.50.8 mm x Thk.1.0mm、ARコーティングは、世界中の先進的な研究、開発、生産システムの基本コンポーネントとして際立っています。
仕様
仕様
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数値
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開口率
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85
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厚み 公差 (mm)
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±0.13
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直径 公差 (mm)
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+0.00 / -0.13
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コーティング
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コーティングなし
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熱膨張係数 (10-⁶/°C)
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2.55
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密度 (g/cm³)
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2.33
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屈折率 n<sub>d</sub
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3.422 @ 5 µm
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平行度 (arcmin)
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< 3
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エッジ
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ファイン研磨
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ヌープ硬度 (kg/mm²)
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1150
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ポアソン比
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0.265
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基板
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シリコン(Si)
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表面平坦度(P-V)
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2λ
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表面品質
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40-20
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タイプ
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保護ウィンドウ
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波長範囲 (nm)
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1200 - 7000
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ヤング率 (GPa)
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140
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*上記製品情報は理論値であり、 参考値です。実際の仕様とは異なる場合があります。